Première norme internationale prenant en compte la spécification et la mesure des états de surface tridimensionnels, l'ISO 25178 désigne un ensemble de documents définissant l’analyse des états de surface surfaciques (appelés aussi états de surface 3D). Cet ensemble couvre non seulement les paramètres surfaciques d’état de surface, les opérateurs de spécification associés mais aussi les technologies de mesure applicables, les méthodes pour les étalonner ainsi que les étalons matérialisés ou les étalons logiciels nécessaires.
La partie 2, publiée en mai 2012 dans la collection des normes françaises sous la référence NF EN ISO 25178-2, spécifie les termes, définitions et paramètres applicables à la détermination de l'état de surface au moyen de méthodes surfaciques, mettant ainsi en place un nouveau vocabulaire spécifique au domaine.
A la rubrique termes généraux, on trouve les termes:
filtre S, défini comme le filtre éliminant de la surface les constituants de plus petite échelle (ou de plus petite longueur d’onde pour un filtre linéaire) et filtre L comme éliminant de la surface les constituants de plus grande échelle (ou de plus grande longueur d’onde pour un filtre linéaire)
opérateur F: opérateur de suppression de la forme nominale.
surface S-L: surface obtenue après filtrage S et L; et surface S-F : surface obtenue après filtrage S et application de l’opérateur F. Ce sont des surfaces à échelles limitées.
A celle des paramètres géométriques:
paramètre V: paramètre de champ ou d'élément relatif à un espace matière ou un espace libre
paramètre S: paramètre de champ ou d'élément qui n'est pas un paramètre V
A celle des éléments géométriques
pic: point de la surface plus élevé que les autres points du voisinage,
segmentation: méthode qui segmente une surface à échelle limitée en régions distinctes.
Les paramètres de champ sont répartis entre paramètres de hauteur, d'espacement et hybrides. Les taux de longueur portante sont associés à leurs paramètres.
La norme comporte des informations sur les diverses techniques de reconnaissance des formes qui peuvent être utilisées pour caractériser des éléments spécifiés sur une surface à échelle limitée.