Bases et techniques avancées en traitement du signal : du capteur à la mesure / Patrick, Nayman [ Livre]
Langue: Français ; de l'oeuvre originale, Français.Publication : Paris : Ellipses, 2017Description : 1 vol. (666 p.) ; 24 cmISBN: 9782340016590.Collection: Formations & techniques, 2554-3024Classification: 621.322 Traitement du signalRésumé: "Cet ouvrage est un ensemble de traitement du signal et d'instrumentation basé sur l'expérience de l'auteur dans le domaine instrumental et l'enseignement. Cet ouvrage propose une vue globale du traitement du signal du capteur à la mesure et sera utile aussi bien à l'étudiant qu'au chercheur ou à l'ingénieur. Cet ouvrage traite les sujets suivants : les séries de Fourier, les transformées de Fourier, Laplace, Hilbert, en z ; les filtrages linéaire et de Kalman et les propriétés spectrales ; l'échantillonnage et le sur-échantillonnage ; la modulation et la détection synchrone ; les systèmes numériques et les ondelettes ; le bruit et l'optimisation des performances (système et composants) ; l'optimisation des détecteurs et la CEM ; la problématique des mesures temporelles et l'optimisation du temps mort ; les photomultiplicateurs et les CCD ; test des convertisseurs analogiques-numériques ; la prédiction et l'estimation spectrales." [Source : 4e de couv.].Sujet - Nom commun: Traitement du signal| Current location | Call number | Status | Notes | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| ENS Rennes - Bibliothèque Sciences de l'ingénieur | 621.322 NAY (Browse shelf) | Available | 621.322 Traitement du signal | 039514 |
"Cet ouvrage est un ensemble de traitement du signal et d'instrumentation basé sur l'expérience de l'auteur dans le domaine instrumental et l'enseignement. Cet ouvrage propose une vue globale du traitement du signal du capteur à la mesure et sera utile aussi bien à l'étudiant qu'au chercheur ou à l'ingénieur. Cet ouvrage traite les sujets suivants : les séries de Fourier, les transformées de Fourier, Laplace, Hilbert, en z ; les filtrages linéaire et de Kalman et les propriétés spectrales ; l'échantillonnage et le sur-échantillonnage ; la modulation et la détection synchrone ; les systèmes numériques et les ondelettes ; le bruit et l'optimisation des performances (système et composants) ; l'optimisation des détecteurs et la CEM ; la problématique des mesures temporelles et l'optimisation du temps mort ; les photomultiplicateurs et les CCD ; test des convertisseurs analogiques-numériques ; la prédiction et l'estimation spectrales." [Source : 4e de couv.]