Topologie et analyse fonctionnelle : cours de licence avec 240 exercices et 30 problèmes corrigés / Yves Sonntag,... [ Livre]

Auteur principal: Sonntag, YvesLangue: Français.Publication : Paris : Ellipses, cop. 1998Description : 512 p. ; 26 cmISBN: 2729857141.Collection: Universités, MathématiquesClassification: 517.1 Analyse avancéeRésumé: Sommaire Chapitre I : Distances et espaces métriques Chapitre II : Normes et espaces vectoriels normés Chapitre III : Suites de points d'un espace métrique Chapitre IV : Densité et approximation dans un e.m. Chapitre V : Fermés d'un espace métrique Chapitre VI : Ouverts d'un espace métrique Chapitre VII : Applications continues Chapitre VIII : Applications uniformément continues. Homéomorphismes Chapitre IX : Produit d'espaces métriques et continuité. Limite d'une application Chapitre X : Applications linéaires continues Chapitre XI : Suites de Cauchy et espaces métriques complets. Espaces de Banach, espaces de Hilbert Chapitre XII : Espaces métriques complets (suite) Chapitre XIII : Espaces métriques compacts (I) Chapitre XIV : Espaces métriques compacts (II) Chapitre XV : Complété d'un espace métrique, d'un e.v.n. et d'un espace préhilbertien Chapitre XVI : Espaces métriques complets : Applications (I). Points fixes Chapitre XVII : Espaces métriques complets : Applications (II). Projections Chapitre XVIII : Espaces de Hilbert réels (I). Autour du théorème de Riesz Chapitre XIX : Espaces de Hilbert réels (II). Bases hilbertiennes Chapitre XX : Connexité(s) Chapitre XXI : Minimisation d'une forme quadratique.Sujet - Nom commun: Topologie de l'espace métrique -- Problèmes et exercices | Topologie de l'espace métrique -- Manuels d'enseignement supérieur | Topologie | Analyse fonctionnelle -- Problèmes et exercices | Analyse fonctionnelle -- Manuels d'enseignement supérieur
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ENS Rennes - Bibliothèque
Mathématiques
517.1 SON (Browse shelf) Available 517.1 Analyse avancée 00000708

Bibliogr. p. 507-508

Index, bibliogr.

Sommaire
Chapitre I : Distances et espaces métriques
Chapitre II : Normes et espaces vectoriels normés
Chapitre III : Suites de points d'un espace métrique
Chapitre IV : Densité et approximation dans un e.m.
Chapitre V : Fermés d'un espace métrique
Chapitre VI : Ouverts d'un espace métrique
Chapitre VII : Applications continues
Chapitre VIII : Applications uniformément continues. Homéomorphismes
Chapitre IX : Produit d'espaces métriques et continuité. Limite d'une application
Chapitre X : Applications linéaires continues
Chapitre XI : Suites de Cauchy et espaces métriques complets. Espaces de Banach, espaces de Hilbert
Chapitre XII : Espaces métriques complets (suite)
Chapitre XIII : Espaces métriques compacts (I)
Chapitre XIV : Espaces métriques compacts (II)
Chapitre XV : Complété d'un espace métrique, d'un e.v.n. et d'un espace préhilbertien
Chapitre XVI : Espaces métriques complets : Applications (I). Points fixes
Chapitre XVII : Espaces métriques complets : Applications (II). Projections
Chapitre XVIII : Espaces de Hilbert réels (I). Autour du théorème de Riesz
Chapitre XIX : Espaces de Hilbert réels (II). Bases hilbertiennes
Chapitre XX : Connexité(s)
Chapitre XXI : Minimisation d'une forme quadratique

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