Modélisation, caractérisation et mesures de circuits intégrés passifs RF / sous la direction de Pierre Saguet [ Livre]
Langue: Français.Publication : Paris : Hermès science publications, impr. 2006Description : 1 vol. (248-IV p.) ; 24 cmISBN: 2746214970.Collection: Traité EGEM, Électronique et micro-électroniqueClassification: 621.38 ElectroniqueRésumé: Cet ouvrage est destiné aux concepteurs de circuits intégrés passifs radiofréquence ou hyperfréquence. Il décrit les méthodes de modélisation des circuits passifs à partir des méthodes d'analyse numérique les plus couramment utilisées (Méthode des Moments, éléments finis, FDTD, TLM), en tenant compte en particulier des phénomènes de propagation. La modélisation des boîtiers et des interconnexions est incluse ainsi qu'une méthode originale de modélisation des circuits multi-échelles. La caractérisation et les méthodes de mesure font l'objet de deux chapitres très complets sur les mesures dans le domaine fréquentiel et temporel. Les erreurs de mesure sur analyseur de réseau vectoriel et leurs corrections sont particulièrement détaillées ainsi que tous les passages entre les différents paramètres S, Z, Y, h, T, ABCD. La réflectométrie dans le domaine temporel et son utilisation sont également détaillées dans l'ouvrage..Sujet - Nom commun: Circuits intégrés pour microondes -- Modèles mathématiques | Circuits intégrés hybrides -- Fiabilité | Radiofréquences | Lignes de transmission pour microondes | Circuits intégrés hybrides | Circuits intégrés -- Modèles mathématiques| Current location | Call number | Status | Notes | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|
| ENS Rennes - Bibliothèque Magasin (archives) | 621.38 SAG (Browse shelf) | Available | 621.38 Electronique | 00011274 |
RF = radio-fréquence
Notes bibliogr. Index
Bibliogr. Index
Cet ouvrage est destiné aux concepteurs de circuits intégrés passifs radiofréquence ou hyperfréquence. Il décrit les méthodes de modélisation des circuits passifs à partir des méthodes d'analyse numérique les plus couramment utilisées (Méthode des Moments, éléments finis, FDTD, TLM), en tenant compte en particulier des phénomènes de propagation. La modélisation des boîtiers et des interconnexions est incluse ainsi qu'une méthode originale de modélisation des circuits multi-échelles. La caractérisation et les méthodes de mesure font l'objet de deux chapitres très complets sur les mesures dans le domaine fréquentiel et temporel. Les erreurs de mesure sur analyseur de réseau vectoriel et leurs corrections sont particulièrement détaillées ainsi que tous les passages entre les différents paramètres S, Z, Y, h, T, ABCD. La réflectométrie dans le domaine temporel et son utilisation sont également détaillées dans l'ouvrage.